李书鑫, 徐婷, 李慧, 杨文莹, 蔺吉祥, 朱先灿
2020, 9(03): 221-230.
为了探讨低温胁迫对玉米幼苗叶片光化学反应的影响机制,本研究基于叶绿素荧光动力学原理,对常温(25℃)和低温处理(2℃)的玉米幼苗叶片进行测量,分别获得快速叶绿素荧光诱导动力学曲线(OJIP曲线)和荧光参数,并应用JIP-test法进行比较分析。结果表明:相比于常温处理,低温胁迫下玉米叶片最大荧光(F_m)和光系统Ⅱ(PSⅡ)潜在光化学效率(FV/FO)分别减少55.3%和65.9%,而初始荧光(F_O)基本没有变化;对O-P相的荧光参数进行标准化的W_(OJ)和W_(JI)增大,但W_(IP)减小; J和I相的相对可变荧光V_j和V_i表现相反,V_j增加19.7%而V_i减少16.4%;反映PSⅡ供体侧活性的F_K占振幅F_O-F_J的比例W_K增加44.7%,放氧复合体的组分OEC减少13.1%;反映PSⅡ受体侧电子传递活性的参数S_m、M_O、N分别增加210%、49.6%、294%;表示量子产额或能量分配的φP_o、ψ_O、φE_O分别减少24.9%、6.82%、29.7%,φD_O增加141%;反映单位反应中心活性的参数ABS/RC、TR_O/RC、ET_O/RC、DI_O/RC分别增加70.4%、24.7%、16.1%、328%,而单位面积有活性反应中心密度RC/CS_O减少37.4%;表示光合性能的参数PI_(ABS)、PI_(CSm)分别减少81.6%、90.6%。综合分析玉米叶片光合过程对低温胁迫敏感,其表现的低温逆境防御保护机制是:PSⅡ供体侧的放氧复合体损伤,导致PSⅡ供体侧提供电子的能力下降,反应中心失活数量上升,而单个反应中心的效率增强,多余能量以热量形式散失,减少活性氧(ROS)的产生;低温胁迫造成的玉米叶片PSⅡ供体侧损伤,将抑制电子的传递,进而影响光合能力。